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型號:DV2T

型號:CL-32L

型號:AB4120

型號:KBF-S ECO Solid.Line 系列

型號:MODEL F

型號:FED 系列 Avantgarde.Line

型號:MKT系列

型號:CAP2000+L/H

型號:LVT/RVT/HAT/HBT

型號:FD 系列 Avantgarde.Line

型號:VD 系列

型號:BD 23/400
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應用背景某高校專注于侵入式神經調控芯片及可穿戴醫療設備的開發,產品涵蓋深腦刺激器、脊髓刺激器、植入式腦電采集系統等。這些芯片需長期植入人體,面臨體溫波動、高濕組織液環境及局部產熱等復雜生理條件。為確保芯片在人體內安全可靠地工作,故選用了BINDER環境模擬箱,通過精準模擬生理環境,對芯片進行性能驗證。核心挑戰芯片性能穩定性溫度需維持在37℃(核心體溫),在不同的濕度條件下,模擬芯片在通電狀態下性能穩定性。濕度按梯度提升(每階段遞增10%),每階段穩定數小時5%-90%RH寬濕...
多角度分光光度儀是一種用于測量樣品在不同角度下的光反射、透射或吸收情況的儀器。它廣泛應用于材料科學、化學分析、環境監測、藥品質量控制等領域,尤其適用于對材料表面特性、反射率、透光率以及吸光度進行高精度分析。以下是多角度分光光度儀的調整與使用方法:一、設備準備與檢查設備檢查:確認儀器處于工作狀態,檢查電源、光源、探測器等主要部件是否正常。檢查樣品臺、光源和探測器的連接是否穩固,是否有松動現象。確保設備在操作環境中保持合適的溫度和濕度,以防光源或傳感器受外部環境影響。校準儀器:在...
分析天平是化學實驗室的常用儀器之一,在一些需要高精度稱量樣品的實驗中,分析天平起著至關重要的作用。關于分析天平分析天平(Analyticalbalance)一般是指能精確稱量到±0.0001g的天平,它是比臺秤更為精確的稱量儀器。有多種類型:電子分析天平(電子天平)、單盤分析天平、電光分析天平等。分析天平的原理分析天平分為好幾種,機械式、電子式、手動式、半自動式、全自動式等等。其中機械天平根據杠桿原理,當天平達平衡時,物體的質量即等于砝碼的質量。而電子分析天平是...
印刷電路板PCB可為電子組件提供機械支撐,它可將電子元器件固定在指定位置并進行電氣連接。幾乎所有類型的電子設備都使用PCB。PCB是一種復合材料,通過在壓力條件下將支撐材料(玻璃纖維布)與基體(粘合劑:可固化的塑料、環氧樹脂等)一同成型的方式制成,外層由層壓在非導電基材上的薄銅箔組成。絕緣材料一般由浸在環氧樹脂(FR4、FR5)中的玻璃纖維布組成,采用溴化物(四溴雙酚A)作為阻燃劑[1]。實際上,除了電氣特性(例如:漏電流、絕緣電阻、介電常數)之外,PCB的熱屬性也非常重要。...
近期小編發現有從事稀土分析的老師就《GB/T17417.1-2010稀土礦石化學分析方法第1部分:稀土分量測定》和《GB/T17417.2-2010稀土礦石化學分析方法第2部分:鈧量測定》兩份標準中,提到的順序掃描型電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP-OES),咨詢如何區分ICP-OES的類型。國標解讀背景隨著科技的進步,大量商品化的電感耦合等離子體發射光譜儀呈現百花齊放的技術發展路線。今天和大家一起解讀《GB/T36244-2018電感耦合等離子體原子發射光譜儀》,了解在國...
背景介紹隨著半導體技術的進步,設備微型化和集成化程度不斷提高,對制造環境的要求也越來越高。特別是在先進工藝節點(如7nm、5nm及更小節點)中,高TOC(總有機碳)水平可能導致晶圓表面污染,從而引發缺陷,影響最終產品的性能和良品率。因此,加強TOC監控已成為半導體制造過程中的重要環節。在半導體制作工藝中,80%以上的工序要經過化學處理,而每一道化學處理都離不開超純水,用于半導體工藝的超純水,根據美國ASTMD5127-2013(2018)標準,一級電子級別水的TOC通常要求低...
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